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发表于 2009-3-12 11:28
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SPC提出过程能力指数Cpk和过程性能(表现)指数Ppk两个指数概念
1、Cpk:将极差估算的标准差作为计算Cpk的基础。他的前提是“合理子组”概念,即子组内的变差代表固有变差,这意味着在取样时要确保子组内出现特殊原因的机会最小。同时我们还需要通过若干组数据证明过程是稳定的,否则每个阶段的Cpk都会不同,这样就不能用一个Cpk值得到内部和外部的信任/批准。
2、Ppk:将总变差(用均方根计算、所有样本不分组)作为计算基础。能够计算Cpk的样本,当然也能计算Ppk,但是AIAG的PPAP手册中规定只有可以预测的不稳定过程(如定期换刀的机加工工序,常常会呈现一种典型的成较稳定周期的锯齿状)才能计算Ppk。
3、在国内原来的相关教材中,计算Cpk即可以用均方根计算标准差,也可以用极差估算标准差,所以,早期国内没有Ppk概念。现在国内的相关书籍一般会介绍几种不同的过程能力指数计算方法,如果只介绍一种的话,反而容易让大家混淆。
4、但到现在为此,欧洲部分企业的计算方法描述与国内早期相同。他们有时讲到的Ppk,实际是指早期研究的计算结果,所用的计算公式不一定与AIAG手册的相同,所以大家在接触不同顾客时,要了解清除他们对于这两个指数的要求,不要只用AIAG手册说话。有些顾客也可能没有接触过AIAG的SPC手册,当然,国内更多的情况是只接触过AIAG的SPC手册。
5、日本部分电子企业仍然只用Cpk。
以上信息,供大家参考。 |
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